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  • 孔內鍍銅測厚儀

    能夠用于測量(liang)電路板蝕刻工(gong)序前、后穿孔(kong)鍍銅厚度(du)的(de)便攜(xie)式測厚儀。測量(liang)不受被(bei)測表面層溫度(du)的(de)影響讀數極其(qi)準確與可靠。

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  • 孔壁銅厚測試儀

    手(shou)持電渦流(liu)式,測量PCB孔(kong)銅(tong)蝕刻前(qian)后鍍銅(tong)厚度(du)。它能(neng)於蝕刻前(qian)、後,測量PCB穿孔(kong)內鍍層厚度(du)。獨特的(de)設計使(shi)其能(neng)夠*勝任(ren)對雙層或多層電路板的(de)測量,甚至可以穿透錫 Sn 和錫/鉛 Sn/Pb 抗蝕層進(jin)行測量。系列獨有的(de)溫度(du)補(bu)償特性使(shi)其適(shi)用於在電鍍過程中進(jin)行厚度(du)測量,進(jin)而降低(di)廢(fei)料、重工成本。

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  • 通孔鍍銅測厚儀

    美國UPA 通孔鍍銅測厚儀。四點電阻原(yuan)理,可測量PCB孔內鍍銅/表面銅箔厚度(du)

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  • PCB 鍍銅測厚儀

    PCB 鍍銅測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)用于測(ce)量(liang)電(dian)路板(ban)蝕刻工(gong)序前、后PCB孔內鍍銅厚(hou)(hou)度的便攜式測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)。

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